1. Determinatio simul Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu aliorumque elementorum in exemplaribus geologicis; etiam adhiberi potest ad vestigia elementorum metallorum pretiosorum in exemplaribus geologicis detegenda (post separationem et locupletationem);
2. Determinatio elementorum impuritatum a plurimis ad plurima genera in metallis et oxidis altae puritatis, exemplaribus pulverum ut tungsteno, molybdeno, cobalto, niccolo, tellurio, bismutho, indio, tantalo, niobio, etc.;
3. Analysis vestigiorum et elementorum vestigialium in exemplaribus pulveris insolubilis, ut ceramicis, vitro, cinere carbonis, etc.
Unum e programmatibus analyticis adiuvantibus indispensabilibus pro exemplaribus explorationis geochemicae
Idoneum ad detectionem impuritatum in substantiis altae puritatis
Systema Imaginum Opticarum Efficax
Systema opticum Ebert-Fastic et iter opticum trium lentium adhibita sunt ad lucem erraticam efficaciter removendam, halos et aberrationem chromaticam eliminandam, fundum reducendum, facultatem colligendi lucis augendam, bonam resolutionem, qualitatem lineae spectralis uniformem obtinendam, et iter opticum spectrographi clathri unius metri plene hereditandum. Commoda:
Fons lucis excitationis arcus AC et DC
Commodum est inter arcus AC et DC commutare. Pro variis exemplaribus examinandis, aptum modum excitationis eligere prodest ad analysin et eventus probationis emendandos. Pro exemplaribus non conductivis, modum AC elige, et pro exemplaribus conductivis, modum DC elige.
Electroda superior et inferior secundum parametros programmatis constitutos sponte ad locum designatum moventur, et postquam excitatio completa est, electroda removentur et reponuntur, quod facile operari potest et magnam accuratam ordinationis praebet.
Technologia proiectionis imaginum electrodi patentata totum processum excitationis in fenestra observationis ante instrumentum ostendit, quod usoribus commodum est ad excitationem exempli in camera excitationis observandam, et adiuvat ad proprietates et mores excitationis exempli intellegendos.
| Forma viae opticae | Typus Ebert-Fasticus verticaliter symmetricus | Spatium currente | 2~20A (AC) 2~15A (DC) |
| Lineae Planae Clathri | 2400 frusta/mm | Fons lucis excitationis | Arcus AC/DC |
| Longitudo focalis viae opticae | 600mm | Pondus | Circa CLXXX chiliogrammata |
| Spectrum theoreticum | 0.003nm (300nm) | Dimensiones (mm) | 1500 (L) × 820 (L) × 650 (A) |
| Resolutio | 0.64nm/mm (prima classis) | Temperatura constans camerae spectroscopicae | 35OC±0.1OC |
| Ratio Dispersionis Lineae Decrescentis | Systema acquisitionis synchronae celeritatis altae, technologia FPGA innixum, pro sensore CMOS summae efficaciae. | Conditiones ambientales | Temperatura cubiculi 15°C~30°C Humiditas relativa <80% |